7月15日
🎤 測量麥克風:好的、差的、糟的
- Alex Chen
- 12月2日
- 讀畢需時 4 分鐘
2015 年 7 月 26 日
測量麥克風的價格帶非常大,從 10 美元到 4,000 美元都有。品質差異也極大,而中間有許多不同等級的選擇。低成本測量麥克風的優點是:它們的頻率響應通常比你會測的任何喇叭來得更平滑、且高頻延伸更好(例如:在 1 公尺、1W 測量失真時,麥克風產生的失真通常比被測的喇叭低很多)。

電容 VS. 自極化背駐極體測量麥克風
測量麥克風本質上是「壓力式麥克風」,只對聲壓做反應,不考慮方向性。當然實際世界有其限制,麥克風的直徑必須足夠小,避免繞射與波長效應造成高頻測量不準確。常見標準尺寸為 0.5 英寸、0.25 英寸、0.125 英寸。
許多大型錄音室麥克風的振膜與外殼直徑達 1 英寸或以上。這些麥克風雖然可以錄出美觀的聲音,但不適合用於聲學測量。因為大型直徑與其他因素會讓其在 8 kHz 以上表現不佳。
然而,實務上被拿來錄音的測量麥克風,反而比真正拿來做喇叭測量的還多。
自由場、擴散場、壓力場 麥克風
如果你使用的是中價位(±2 dB 精度)的測量麥克風,拿來錄音或現場 EQ(尤其 16 kHz 以下)時,其實不太需要在意是自由場、擴散場還是壓力場。
● 自由場(Free Field)
聲音能自由往外擴散,沒有反射、沒有混響。例子:
無響室
戶外、距離地面夠遠
● 擴散場(Diffuse / Random Incidence Field)
聲音從各方向同時或連續抵達,方向均等、沒有時間間隔。
● 壓力場(Pressure Field)
聲壓在整個空間內的大小與相位都一致。
這三者的差異主要出現在高頻,且受麥克風直徑影響。測量麥克風的設計目標是讓頻率響應對「聲壓本身」保持一致。
麥克風的 Type / Class(精度等級)
測量麥克風通常會掛上 Type 1、Type 2 或 Type 3 的名稱。事實上,等級是給聲級計(sound level meter)用的,不是給麥克風本身。但慣例上會用這些等級來形容麥克風的精度與穩定度。
Type 1(Class 1):精度較高
Type 2(Class 2):一般現場使用
Type 3(Class 3):只需要在 1 kHz 附近準確(例如便宜的 Radio Shack 模擬聲級計)
高階麥克風(B&K、G.R.A.S.、ACO Pacific)通常能符合 Type 1,而現場用的 electret(駐極體)測量麥克風大多屬於 Type 2。
便宜的 Type 3 會在 1 kHz 以上偏差較大,只求 A/C 加權的準確度即可。
低價 ECM(駐極體)測量麥克風的問題
一些低價「測量麥克風」其實就是普通 8 mm 駐極體膠囊 + 金屬管外殼。
ECM 的訊噪比(SNR)可能只有 56 dB,也可能到 62 dB 以上。這會影響你能測量的噪聲與失真底線。
ECM 可以透過溫度修正、或 Fairchild 的 ASIC 晶片來改善靈敏度漂移。但不能把所有 electret 麥克風一視同仁:
Panasonic 很普遍、有一定平坦度
但噪聲比實驗室級麥克風差 10 dB 以上
容易受溫度與時間影響
因此它們適合入門使用,但離實驗級距還有差距。
尺寸很重要
測量麥克風理想上應該是全指向,但實際上直徑決定其高頻極限。常見直徑:1”、0.5”、0.25”、0.125”。
低價 0.5” 的 ECM 測量麥克風可能使用 10 mm 背駐極體膠囊,可以達到:
約 70 dB 的 SNR
大於 125 dB 的最大 SPL
代價是高頻會出現一些可預測的響應異常。
為什麼測量麥克風需要承受高 SPL?例如:
車音比賽(超大 SPL)
低頻近場測量(woofer 很近)
部分便宜麥克風甚至不符合任何校正器的標準尺寸,需要硬塞進去(字面上)。
測量麥克風的校正
如果要進行科學或法律用途的測量,必須確切知道麥克風「每帕斯卡對應電壓(V/Pa)」的靈敏度。
尤其 electret(駐極體)類型的麥克風,隨時間與溫度會漂移,因此需要:
定期校正
使用受認證的實驗室
追溯到國家級標準(NIST、PTB、NPL 等)
校正方式:
● 一次校正(Primary – Reciprocity Calibration)
國家級標準實驗室使用互易法(Reciprocity)建立標準。
● 二次校正(Secondary – Comparison Calibration)
把被測麥克風與標準麥克風比較。
麥克風的靈敏度會因哪些因素改變?
頻率
溫度
濕度
聲場類型(自由場/壓力場等)
因此通常會記錄多組靈敏度值、且可能需要在不同聲場條件下校正。
測量麥克風如果掉落、或暴露在超過其規格的 SPL,也必須重新校正。
ECM 較容易需要頻繁校正。「真正的」電容式(true condenser)測量麥克風更穩定。
📘 關於作者 Mike Klasco
Mike Klasco 是 Menlo Scientific(位於加州里士滿)的總裁,該公司專門為 音響與喇叭產業提供技術諮詢服務。
他畢業於 紐約大學(New York University),並在 訊號處理(signal processing)領域進行研究所層級的進階學習。他擁有多項專利,並長期為音響產業進行研發、工程設計與技術諮詢工作。

























































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